Nanoprober für Fehleranalyse und Prozessentwicklung in der Halbleiterindustrie

Grant period2013-03-01 - 2016-08-31
Funding bodyFederal Ministry of Education and Research
 BMBF
Grant numbergrant.8018662
IdentifierG:(BMBF)03V0298

 

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 Record created 2021-09-20, last modified 2021-09-22