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001     299940
005     20240928181100.0
024 7 _ |a G:(GEPRIS)390918228
|d 390918228
035 _ _ |a G:(GEPRIS)390918228
040 _ _ |a GEPRIS
|c http://gepris.its.kfa-juelich.de
150 _ _ |a 200kV Transmissionselektronenmikroskop
|y 2017
371 _ _ |a Professor Dr. Markus Rettenmayr
450 _ _ |a DFG project G:(GEPRIS)390918228
|w d
|y 2017
510 1 _ |a Deutsche Forschungsgemeinschaft
|0 I:(DE-588b)2007744-0
|b DFG
680 _ _ |a Die Notwendigkeit der Erweiterung der analytischen Transmissionselektronenmikroskopie am Otto-Schott-Institut auf den aktuellen der Stand der Technik ergibt sich aus der Tatsache, dass die Untersuchung von nanoskaligen Strukturen sowie von Grenz- und Oberflächen generell eine lateral hochaufgelöste Charakterisierung der Zusammensetzung und der Kristallstruktur erfordern. Diese Fragestellungen können derzeit nicht auf dem Stand der Technik behandelt werden. Das hier beantragte Großgerät soll uns in die Lage versetzen, sowohl Spektroskopie (EDX, EELS) als auch Elektronenbeugung (NBED) mit einer Auflösung bis in den sub-nm- Bereich zu betreiben und so die Verteilung von nanoskaligen Phasen zu kartieren (STEM). Zusätzlich werden mit der beantragten Auslegung für in-situ Heizexperimente die Mechanismen von Festkörperphasenumwandlungen temperatur- und zeit- sowie hochaufgelöst charakterisiert. Durch die Beschaffung dieses Geräts soll das wissenschaftliche Spektrum der Universität Jena im Bereich der Materialforschung bedient und gleichzeitig erweitert werden.
909 C O |o oai:juser.fz-juelich.de:966683
|p authority:GRANT
|p authority
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980 _ _ |a G
980 _ _ |a AUTHORITY

LibraryCollectionCLSMajorCLSMinorLanguageAuthor
Marc 21