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150 _ _ |a Röntgenphotoelektronenspektrometrie-System
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371 _ _ |a Professor Dr. Sven Schneider
450 _ _ |a DFG project G:(GEPRIS)424956935
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|y 2019
510 1 _ |a Deutsche Forschungsgemeinschaft
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|b DFG
680 _ _ |a Die Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) ist eine zentrale Analysenmethode für Oberflächen und Molekülverbindungen zur Ermittlung z.B. der chemischen Komposition oder von Redoxzuständen. Das beantragte System ersetzt ein altes Gerät, dessen Ausfall am Standort Göttingen nicht kompensiert werden konnte. Es soll in einer Vielzahl von Projekten zur Charakterisierung von heterogenen und homogenen Katalysatoren, Metall-, Metallchalkogenid- und Polymerfilmen bzw. Heterostrukturen eingesetzt werden. Es stärkt damit entscheidend eine Reihe laufender Verbund- und Einzelprojekte bzw. geplante Forschungsverbünde. Die chemische Charakterisierung der anfallenden Proben erfordert eine monochromatisierte Röntgenquelle (Al) mit hoher Energieauflösung (<1eV) bei gleichzeitig hoher Detektionsempfindlichkeit. Eine zweite Quelle ist für die Untersuchung von Al-Proben nötig. Die Tiefenprofilierung weicher Materialien (Polymere, Metallchalkogenide) soll durch Argon-Clustersputtern ermöglicht werden. Eine Elektronenquelle soll zur Identifizierung von Auger-Peaks angebracht werden. Das XPS System soll im Multiuserbetrieb eingesetzt werden, um möglichst breite Nutzung zu gewährleisten und zentrale Instandhaltung zu ermöglichen. Zu diesem Zweck ist geplant, es im Campus-Gemeinschaftslabor CLUE in der Fakultät für Physik unterzubringen und damit einer möglichst großen Nutzergruppe insbesondere aus Chemie und Physik Zugang zu geben.
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Marc 21