Datensatz #347268 - GSI Repository

DFG project G:(GEPRIS)532575107

Spektroskopisches Ellipsometer für das Infrarot

Coordinator	Professor Dr. Marius Grundmann
Grant period	2023
Funding body	Deutsche Forschungsgemeinschaft
	DFG
Identifier	G:(GEPRIS)532575107

Note: Es soll ein spektroskopisches Ellipsometer für den infraroten Spektralbereich angeschafft werden. In Verbindung mit den bereits verfügbaren Ellipsometern sollen damit die optischen Eigenschaften, insbesondere die dielektrische Funktion, von Materialien und Systemen in einem weiten Spektralbereich vom fernen Infrarot (0,04 eV) bis tiefen ultravioletten Spektralbereich (8.50 eV) untersucht werden. Die zur dielektrischen Funktion beitragenden Anregungen im infraroten Spektralbereich, typischerweise PhononModen, freie Ladungsträger und auch elektronische Übergänge, sollen mittels Linienformanalyse bestimmt und auf deren wechselseitige Beeinflussung untersucht werden. Vom besonderen Interesse sind dabei auch optisch anisotrope Materialien insbesondere mit einer monoklinen oder triklinen Kristallstruktur. Da mindestens zwei Kristallachsen nicht orthogonal zueinander sind, besitzen einige physikalischen Größen, wie zum Beispiel der Tensor der dielektrischen Funktion oder der effektive Masse-Tensor, nicht verschwindende Nebendiagonalelemente, sodass neue Effekte auftreten können, wie zum Beispiel die Verletzung der LO-TO-Regel oder die Bildung von singulären optischen Achsen. Der Einfluss dieser nicht verschwindende Nebendiagonalelemente auf die optische Antwort der (Volumen-)Materialien und auch artifizieller photonischer Systeme sowie den zugrundeliegenden physikalischen Prozessen soll untersucht werden. Dies erfolgt zuvorderst durch die experimentelle Bestimmung des dielektrischen Tensors und ergänzend durch Anpassung an theoretische Linienformmodelle sowie allgemeinere Theorien zu optisch anisotropen Systemen.

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Datensatz erzeugt am 2023-12-05, letzte Änderung am 2024-09-28

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